TCD－9302局部放電測(cè)試儀是我公司研制開發(fā)生產(chǎn)的一種新型儀器。它基本上保持了原有局部放電檢測(cè)儀的優(yōu)點(diǎn)和功能，并致力于縮小儀器體積、重量、使之成為名符其實(shí)的攜帶式儀器。該儀器是根據(jù)IEC(270)標(biāo)準(zhǔn)，利用脈沖電流法原理研制而成，并滿足GB-7354-2004、GB-1207-97、GB－1208－97中關(guān)于局部放電測(cè)試對(duì)測(cè)試儀器規(guī)定的技術(shù)要求。該儀器具有靈敏度高、放大器系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍大、測(cè)試的試品范圍廣、操作簡(jiǎn)便等優(yōu)點(diǎn)。并采用先進(jìn)的抗干擾組件和獨(dú)特的門顯示電路，抗干擾能力強(qiáng)，并具有四種高頻橢圓掃描，適用于高壓產(chǎn)品的型式、出廠試驗(yàn)，新產(chǎn)品研制試驗(yàn)，電機(jī)、互感器、電纜、套管、電容器、變壓器、避雷器、開關(guān)及其它高壓電器局部放電的定量測(cè)試?？晒┲圃鞆S、科研部門、電力部門現(xiàn)場(chǎng)使用。
局部放電是指在絕緣的局部位置放電，它并不構(gòu)成整個(gè)絕緣的貫通性擊穿。它包含三種放電形式：內(nèi)部放電（在介質(zhì)內(nèi)部）、沿面放電（在介質(zhì)表面）、電暈放電（在電極**）。
視在放電量校準(zhǔn)器是一標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器，試驗(yàn)前它以輸出某固定電量加之試品兩端，模擬該試品在此電量下放電時(shí)局部放電測(cè)試儀的響應(yīng)，此時(shí)調(diào)整刻度系數(shù)，確定局部放電檢測(cè)儀的量程，以便在試驗(yàn)時(shí)測(cè)量該試品在額定電壓下的視在放電量。因該放電量時(shí)以標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器比較后間接測(cè)出，而非直接測(cè)出，故此放電量稱為“視在放電量”。
視在放電量校準(zhǔn)器由校準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器和校準(zhǔn)電容串聯(lián)組成，其參數(shù)主要包括：脈沖波形上升時(shí)間、衰減時(shí)間、內(nèi)阻、脈沖峰值、校準(zhǔn)電容值等。
校準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器電壓波形上升時(shí)間為從0.1U0到0.9U0的時(shí)間，衰減時(shí)間定義為從峰值下降到0.1U0的時(shí)間。
檢測(cè)阻抗是拾取檢測(cè)信號(hào)的裝置，在使用中，應(yīng)根據(jù)不同的測(cè)試目的，被試品的種類來(lái)選擇合適的檢測(cè)阻抗，以提高局部放電測(cè)量的靈敏度、分辨能力、波形特性及信噪比。
時(shí)間窗是為防止大于局部放電的干擾信號(hào)進(jìn)入峰值檢波電路而設(shè)計(jì)的一種電路裝置。因在實(shí)際試驗(yàn)時(shí)，尤其是在現(xiàn)場(chǎng)做試驗(yàn)時(shí)，不可避免地會(huì)引入一些干擾，所以，時(shí)間窗的使用更顯得重要。
時(shí)間窗的工作原理是把橢圓掃描時(shí)基分成導(dǎo)通(加亮區(qū)域)和截止(未加亮區(qū)域)兩部分,通過(guò)改變時(shí)間窗的位置和寬度將放電脈沖置于導(dǎo)通(加亮區(qū)域)，干擾脈沖置于截止(未加亮區(qū)域)，此時(shí)儀表讀數(shù)即為放電脈沖數(shù)值，而干擾則不論大小，皆不會(huì)影響放電脈沖數(shù)值。若此時(shí)兩個(gè)時(shí)間窗同時(shí)關(guān)閉，則儀表讀數(shù)為整個(gè)橢圓上脈沖之峰值。
若試品Ｃa在試驗(yàn)電壓下產(chǎn)生局部放電時(shí)，經(jīng)耦合電容Cｋ產(chǎn)生脈沖電流，由輸入單元拾取得脈沖訊號(hào)，經(jīng)低噪聲前置放大、濾波放大器選擇所需頻帶及主放放大后，在示波屏的橢圓掃描基線上顯示出放電脈沖，同時(shí)也送到脈沖峰值表（對(duì)數(shù)表）顯示其峰值。時(shí)間窗單元控制試驗(yàn)電壓每一周期內(nèi)脈沖峰值表的工作時(shí)間，并在這段時(shí)間內(nèi)將顯示屏的顯示加亮，寬度與位置可以改變，進(jìn)一步加強(qiáng)了抗干擾能力。
(一)試驗(yàn)?zāi)康?/div>
(1) 證實(shí)試品在規(guī)定電壓下沒(méi)有高于規(guī)定值之局部放電；
(2)測(cè)定電壓上升時(shí)出現(xiàn)放電超過(guò)某一規(guī)定值時(shí)的*低電壓(起始放電電壓)和電壓下降時(shí)放電低于規(guī)定值時(shí)*高電壓(終止放電電壓)。
(3) 測(cè)定在某一規(guī)定電壓下的放電強(qiáng)度。
(二)試驗(yàn)條件
(1) 交流電源電壓應(yīng)為正弦波，不應(yīng)有過(guò)大的高次諧波。
(2) 試品的電氣、機(jī)械、溫度條件應(yīng)良好且穩(wěn)定。
(3)由于電壓回滯現(xiàn)象的影響，在試驗(yàn)前至少幾小時(shí)以上的時(shí)間內(nèi)，不要承受超過(guò)規(guī)定的局部放電試驗(yàn)電壓*高值以上的電壓。
(4) 經(jīng)過(guò)搬運(yùn)后的試品，必須靜放一段時(shí)間后再做局部放電試驗(yàn)(油浸)。
(三)試驗(yàn)程序
1.將試驗(yàn)區(qū)內(nèi)的雜物盡量移到試區(qū)以外，各種金屬物體應(yīng)牢固接地，檢查和改善試區(qū)內(nèi)一切可能放電的部位，應(yīng)特別注意各種地線是否已接地。
2. 根據(jù)不同的試品和試驗(yàn)條件，選擇正確的接線方式。
3. 用視在放電量校準(zhǔn)器（Q視）對(duì)整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行刻度系數(shù)K校正。如圖1將視在放電量校準(zhǔn)器接入線路中，調(diào)節(jié)儀器的增益旋鈕，把指針調(diào)至參考值H，則刻度系數(shù)K＝H/Q視（詳見具體操作說(shuō)明5） 。校正完畢后，測(cè)試儀器的細(xì)調(diào)（連續(xù)調(diào)節(jié)）增益旋鈕不得隨意變動(dòng)，同時(shí)應(yīng)將視在放電量校準(zhǔn)器從高壓線路上取下，以免在加壓試驗(yàn)時(shí)將視在放電量校準(zhǔn)器擊穿而使高壓線路短路。
(四)注意事項(xiàng)
1.在試驗(yàn)開始加壓以前，試驗(yàn)人員必須詳細(xì)而**地檢查一遍線路，以免線路接錯(cuò)。測(cè)試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接，若連接不牢或在準(zhǔn)備工作時(shí)掐頭去尾線被腳踢斷，這將可能引起人身和設(shè)備事故。
2．對(duì)于連接線應(yīng)避免將**暴露在外，防止**電暈放電，尤其對(duì)于電壓等級(jí)較高的局部放電試驗(yàn)，必要時(shí)要加粗高壓連接線及加裝防電暈罩，減小因場(chǎng)強(qiáng)過(guò)高引起的電暈放電。屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。
3.一般情況下，在試驗(yàn)過(guò)程中，被試品在耐壓、預(yù)升壓時(shí)局部放電量都比正常值大很多，此時(shí)儀器的儀表必然會(huì)超出滿刻度。為防止儀器損壞，應(yīng)將儀器的增益粗調(diào)旋鈕逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以不超出滿刻度為標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)電壓降至測(cè)量電壓時(shí)，再將增益粗調(diào)開關(guān)順時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以便記錄測(cè)量值。
4.校正電量發(fā)生器校正完畢后，一定要從高壓端脫離，并關(guān)閉電源開關(guān)，且儀器的增益細(xì)調(diào)旋鈕不可再調(diào)。因增益粗調(diào)開關(guān)每相鄰兩檔之間的關(guān)系是十倍，且檔位有指示，故升壓后根據(jù)放電量大小，可選擇合適量程。逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)時(shí)，每降一檔量程擴(kuò)大十倍；反之，順時(shí)針時(shí)，量程縮小十倍。
5.試驗(yàn)完畢后，應(yīng)對(duì)整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)再進(jìn)行一次復(fù)查校正，驗(yàn)證是否與試驗(yàn)前所校正出的刻度系數(shù)相等，以免測(cè)試儀器或其它環(huán)節(jié)在試驗(yàn)過(guò)程中發(fā)生故障而使測(cè)試結(jié)果不對(duì)。
六、具體操作說(shuō)明
（一）試驗(yàn)準(zhǔn)備
1．根據(jù)試品的容量Ca，耦合電容的大小Ck，選取適合序號(hào)的輸入單元。表1中調(diào)諧電容量系指與輸入單元初級(jí)繞組并聯(lián)的電容（粗略估算以按試品容量與耦合電容的容量串聯(lián)計(jì)算）。例如：試品容量為120ｐF，耦合電容量為1000ｐF，則所需檢測(cè)阻抗為有 ≈107，查表1可取2號(hào)單元。
輸入單元應(yīng)盡量靠近試品，輸入單元經(jīng)8米長(zhǎng)的測(cè)量電纜與放大器輸入插座相連。
2. 試品接入輸入單元的方法有以下幾種（見圖3）：
其中：Z為阻塞阻抗；
Ca為試品；
Ck為耦合電容。
1． 面板示意圖
4．準(zhǔn)備
在儀器后面板AC220V插座上接上220V工頻電源，然后打開電源開關(guān)，讓儀器預(yù)熱5分鐘，同時(shí)對(duì)有關(guān)開關(guān)進(jìn)行操作。
“標(biāo)準(zhǔn)－擴(kuò)展－直線”開關(guān)置于標(biāo)準(zhǔn)
放大器頻帶fL、fH分別置20KHｚ，300KHｚ，放大器增益粗調(diào)置3檔，細(xì)調(diào)置中間位置，切不可一開始將粗調(diào)開關(guān)置***。
根據(jù)不同頻率的試驗(yàn)電源選擇電源頻率，以便觀察合適的橢圓。
如果中頻試驗(yàn)電源，請(qǐng)將中頻試驗(yàn)電壓開關(guān)旋在275V檔，然后再接上中頻電源。觀察數(shù)字表讀數(shù)，如果差得太多，可將試驗(yàn)電壓開關(guān)往小檔位上旋一檔，直至合適值，千萬(wàn)不可旋在太小檔位上，同時(shí)請(qǐng)注意，輸入儀器的中頻電壓萬(wàn)不可超過(guò)規(guī)定值275V！，否則儀器被損壞。
橢圓旋轉(zhuǎn)可不作調(diào)節(jié)。窗開關(guān)打在關(guān)位置，以后根據(jù)干擾出現(xiàn)的相位可開窗適當(dāng)調(diào)旋轉(zhuǎn)，根據(jù)干擾情況調(diào)窗寬、位置，使干擾在門窗之外，使局部信號(hào)在窗上，以便讀取放電的數(shù)值。
線性、對(duì)數(shù)開關(guān)置于線性位置。
5. 視在放電量校準(zhǔn)（JZF－10校正脈沖發(fā)生器）
用視在放電量校準(zhǔn)器（JZF－10校正脈沖發(fā)生器）的輸出接于試品兩端，紅端接高壓端(引線盡可能短，以防干擾)，黑端接低壓端，調(diào)節(jié)其輸出放電量，例如50PC，調(diào)節(jié)放大器增益粗調(diào)及增益細(xì)調(diào)旋鈕，使放電量表指示滿度。此時(shí)放電量表指示滿度即100%表示50PC的放電量，注意此時(shí)增益細(xì)調(diào)旋鈕位置不可再動(dòng)。測(cè)量盒應(yīng)盡量靠近試品高壓端。
校準(zhǔn)完畢后，拆除視在放電量校準(zhǔn)器的連線，并關(guān)斷其電源，防止高壓損壞校準(zhǔn)器。
6. 試驗(yàn)操作
接通高壓試驗(yàn)回路的電源，逐步升高電壓至規(guī)定電壓，時(shí)刻注視PC表指示，此時(shí)放電量表的讀數(shù)表示試品放電量的大小，如指示在80%，則表示試品視在放電量為50×80%＝40PC。
若此時(shí)試品放電量剛大于100%即超過(guò)滿度，應(yīng)立即將放大器增益粗調(diào)由原來(lái)的“3”切換到“2”檔，此時(shí)放電量表100%，則表示500PC，假如此時(shí)放電量指示80%，由試品放電量為500×80%＝400PC。
若此時(shí)試品放電量小于10%：
a.應(yīng)將放大器粗調(diào)由“3”檔改至“4”檔，此時(shí)放電量表100%則表示5PC，假如此時(shí)放電量表指示80%，則試品視在放電量為5×80%＝4PC。
b.將儀器面板上對(duì)數(shù)、線性開關(guān)切換至對(duì)數(shù)位置，因?qū)?shù)刻度10%以下分辨率高，可直接讀出對(duì)數(shù)刻度。
旋轉(zhuǎn)“橢圓旋轉(zhuǎn)”開關(guān)使橢圓轉(zhuǎn)到預(yù)期的放電*利于觀察之處。通常這個(gè)位置是零標(biāo)脈沖分別處于橢圓上部左側(cè)及下部右側(cè)之處。連續(xù)升高電壓，注意**次出現(xiàn)持續(xù)放電，當(dāng)放電量超過(guò)規(guī)定的*低值時(shí)的電壓即為局部放電起始電壓。
若有干信號(hào)在放電脈沖附近，可以用窗寬和窗位置將干信號(hào)擾拒之窗外，即合擾窗開關(guān)，用一個(gè)或兩個(gè)時(shí)間窗并用窗寬、窗位置來(lái)改變橢圓上加亮區(qū)域的寬度與位置，使其避開干擾脈沖，這樣，放電量表的指示值只表示放電脈沖的大小，而不表示干擾信號(hào)的值，另外也可以改變頻帶的方法來(lái)提高抗干擾能力。
注：如需判斷放電相位，接上合適的電阻分壓器，取得10V左右的零標(biāo)電壓，緩緩升高試驗(yàn)電壓，橢圓上將出現(xiàn)兩個(gè)零標(biāo)志脈沖，通過(guò)零標(biāo)志可判別放電的相位，如圖所示：
七、測(cè)試中的干擾問(wèn)題
在局部放電測(cè)試中，往往由于外部干擾信號(hào)的影響，而使測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生誤判斷，或者使測(cè)試工作根本無(wú)法進(jìn)行下去。尤其對(duì)從事局部放電測(cè)試工作經(jīng)驗(yàn)不多的人，更容易引起誤判斷。因此，在局部放電測(cè)試技術(shù)中，消除外部干擾成為一項(xiàng)很重要的技術(shù)內(nèi)容，同時(shí)也是花錢較多的一項(xiàng)技術(shù)措施。
(一) 外來(lái)干擾
1．與電源電壓無(wú)關(guān)的干擾
這種干擾與電源電壓（加至被試品上的電壓）無(wú)關(guān)，它不隨電源電壓的升高或降低而變化。它產(chǎn)生于：電氣開關(guān)的開閉操作、電焊起弧、吊車開動(dòng)、整流電機(jī)的電刷、閃光燈、無(wú)線電電磁波以及各種工業(yè)干擾等等。這些干擾通過(guò)電源、測(cè)試回路和地線等途徑侵入進(jìn)來(lái)。
2. 電源電壓有關(guān)的干擾
這類干擾一般隨電源電壓的增加而變大。它可由試區(qū)內(nèi)各個(gè)部分產(chǎn)生。例如：試驗(yàn)變壓器、高壓引線、試品端部、高壓線路接觸**、高壓試區(qū)的絕緣物體與地線（或接地金屬物）接觸、試區(qū)內(nèi)金屬物體接地**、以及其它物體的感應(yīng)放電等等。與電源電壓有關(guān)的干擾的侵入途徑，可以通過(guò)電源、高壓導(dǎo)線、空間和地線侵入到測(cè)試回路內(nèi)。
(二)消除外來(lái)干擾的方法
1.消除與電源電壓無(wú)關(guān)的干擾方法：應(yīng)從電源、空間、接地方式幾個(gè)方面采取措施。為了消除空間電磁波的干擾，應(yīng)將試驗(yàn)室加以屏蔽。對(duì)于由電源侵入的干擾，一般在電源進(jìn)口處加隔離變壓器和濾波裝置。消除由接地網(wǎng)來(lái)的干擾，應(yīng)采取一點(diǎn)接地方式。
2.消除與電源有關(guān)的干擾措施：可將高壓導(dǎo)線加粗（用較粗的蛇皮管、薄鐵皮圓筒或鋁筒）；對(duì)被試品端部加防暈罩；試區(qū)內(nèi)各地線和金屬物應(yīng)良好接地；試區(qū)內(nèi)的絕緣物體嚴(yán)禁與金屬接地體接觸；在高壓線下部地面上不應(yīng)有螺釘、地線頭等金屬物體。
八、附件
說(shuō)明書 1份
質(zhì)量反饋單 1份
電源線 1根
高頻線 1根
測(cè)試電纜 1根（8米）
保險(xiǎn)絲 2只
合格證
九、成套裝置
1. 輸入阻抗
1~12號(hào)任選，7R號(hào)測(cè)長(zhǎng)電纜用。
2. 視在放電量器校準(zhǔn)器（JZF－10校正電量發(fā)生器，局放儀校正脈沖發(fā)生器）任選。
3. LB系列工頻、中頻濾波器
4. SBP系列三倍頻感應(yīng)試驗(yàn)設(shè)備
5. 無(wú)局放電阻分壓器50KV、100KV、150KV、200KV任選。
6. 無(wú)局放耦合電容系列
7. YD無(wú)局放試驗(yàn)變壓器系列
8. 工頻試驗(yàn)控制臺(tái)
十、視在放電量校準(zhǔn)器參數(shù)及使用
(一)局放儀校正脈沖發(fā)生器
局放儀校正脈沖發(fā)生器是專為局部放電的檢測(cè)而設(shè)計(jì)的，本儀器的精度、上升時(shí)間、重復(fù)頻率等直接決定了局部放電的測(cè)試精度，此儀器符合IEC標(biāo)準(zhǔn)。此校正脈沖發(fā)生器輸出電量10~5000PC任意調(diào)節(jié)。適用于先校準(zhǔn)后試驗(yàn)，先試驗(yàn)后校準(zhǔn)的局放試驗(yàn)中。
一、技術(shù)參數(shù)
1．方波幅值
滿刻度為2.5V、5V、10V、25V、50V；
精度為±2%
2. 衰減器：10:1衰減3級(jí)。
3. 輸出脈沖極性
“＋”每周期提供一個(gè)主正向脈沖；
“±”每周期提供一個(gè)正向脈沖和一個(gè)負(fù)向脈沖；
“—”每周期提供一個(gè)負(fù)向脈沖。
4. 方波前沿＜0.05us
5. 重復(fù)頻率：45Hｚ~65Hz，連續(xù)可調(diào)。
6. 脈沖衰減時(shí)間100us~1000us
7. 內(nèi)阻＜75Ω。
8. 工作方式：感應(yīng)同步，手動(dòng)調(diào)節(jié)。
9. 一次工作時(shí)間5分鐘。
10．儀器工作環(huán)境
0~40℃，相對(duì)濕度≯85；
儀器周圍無(wú)強(qiáng)烈振動(dòng)，儀器平放工作，不得傾斜。
11．電源：10V可充電電池。
二、操作程序
用戶可根據(jù)實(shí)際情況選擇輸出幅值和Cq(10pF、100pF)、模擬放電量為Q=Cq×Uo。
將輸出電纜一端接到“衰減輸出”高頻插座，另一端接到裝有注入電容的匹配盒。
將極性開關(guān)調(diào)節(jié)到所需要的脈沖型號(hào)，按下啟動(dòng)按鈕，儀器進(jìn)入工作狀態(tài)。調(diào)節(jié)“方波幅值”旋鈕到所需要的電壓值范圍，然后再調(diào)節(jié)“細(xì)調(diào)”，將同步選擇開關(guān)打到調(diào)頻，然后調(diào)節(jié)旋鈕使脈沖的頻率盡量接近于試驗(yàn)電源的頻率，如果需要同步，將開關(guān)打到感應(yīng)接線柱上，此時(shí)脈沖與電網(wǎng)頻率同步。當(dāng)“極性開關(guān)”旋到“V”檢查時(shí)，看表頭指示是否在紅線以下，如果在紅線以下時(shí)則需充電。
校正結(jié)束后，必須將匹配盒拿下，以免升高壓時(shí)打壞，將儀器置于“關(guān)”位置。
注：此儀器工作時(shí)必須平放，不能傾斜，另此儀器的方波信號(hào)為不接地的，不用接地。
JZF－10型正電量發(fā)生器的主要技術(shù)指標(biāo)及使用
JZF－10型校正電量發(fā)生器是一種小型的可充電電池供電的視在放電量校準(zhǔn)器，它可以分別以四種放電量向試品兩端注入1.2KHｚ左右的校正脈沖，可用于先校準(zhǔn)后試驗(yàn)的局放試驗(yàn)中，適合于國(guó)際電工委員會(huì)IEC－270所推薦的任何一種試驗(yàn)電路。
（一）主要技術(shù)參數(shù)
電池電壓 1.25×8V
輸出電荷量 5、50、500PC或5、10、50、100PC
方波前沿 ＜0.05us
脈寬： 100us~1000us
內(nèi)阻： ?。?5Ω
重復(fù)頻率 1.2KHｚ
頻率變化 ?。尽?00Hｚ
注入電容 10PF、100PF或10PF、20PF
（二）使用方法
首先檢查JZF－10校正脈沖發(fā)生器的電池電壓，如面板上電壓表指示，在8V以上方能正常工作。
將輸出的紅、黑兩個(gè)端子上接上導(dǎo)線，紅端子上的導(dǎo)線盡量短，且靠近試品的高壓端，黑線導(dǎo)線接試品的低壓端，將校正電量開關(guān)置于5、10、50、100、500中任何合適一檔即可校正。頻率可在1.2KHｚ附近調(diào)節(jié)。
校正電量發(fā)生器使用后及時(shí)將調(diào)節(jié)電荷量的波段開關(guān)旋在關(guān)位置。如校正電量發(fā)生器工作時(shí)表頭指示在8V以下，則需充電，充電要適時(shí)，且時(shí)間要連續(xù)達(dá)到5小時(shí)。如校準(zhǔn)電量發(fā)生器常期未用，則每月補(bǔ)充一次電。
十一、常見圖譜分析
（1）接觸**
這種干擾源如圖1所示。其特點(diǎn)是干擾波位于橢圓時(shí)基的零點(diǎn)附近。在正負(fù)半波上對(duì)稱出現(xiàn)，幅值相差不大。干擾在低電壓時(shí)即出現(xiàn)。電壓增大時(shí)，干擾占位區(qū)域也增大，由于疊加效果幅值增大較慢。有時(shí)在電壓達(dá)到某一定數(shù)值后會(huì)完全消失。
造成這種干擾的原因有：試驗(yàn)回路中金屬對(duì)金屬接觸**，塑料電線半導(dǎo)電屏蔽層中粒子間接觸**，電容器卷繞鋁箔電極與插接片接觸**等。
（2）浮動(dòng)電位物體
波形見圖2，特別是在電壓峰值之前的正負(fù)半波部分出現(xiàn)。等幅值間隙不等。由于余輝，有時(shí)成對(duì)的出現(xiàn)，有時(shí)圖像有飄動(dòng)。電壓增加時(shí)，根數(shù)增加，間隙縮小，中間值不變。有時(shí)電壓增加到一定值后干擾信號(hào)會(huì)消失，再降低電壓時(shí)，又會(huì)重新出現(xiàn)。
起因：金屬或碳質(zhì)導(dǎo)體之間的間隙放電。它可以發(fā)生在試樣上或測(cè)試回路中。在兩個(gè)孤立的導(dǎo)電物之間，例如地面上處于浮動(dòng)電位的多種物體間發(fā)生。
（3）外部**電暈
波形如圖3，特別是僅在試驗(yàn)電壓的一個(gè)半波中出現(xiàn)，位于外施電壓的峰值部分，等幅值，等間距。電壓增加時(shí)，放電訊號(hào)波的根數(shù)增加，但幅值總不變。
起因：高壓電極的**或邊緣對(duì)空氣中的放電。若干擾訊號(hào)位于橢圓時(shí)基的負(fù)關(guān)周，則**電暈處于高電壓下，若干擾訊號(hào)位于時(shí)基橢圓的正半周，則**在接地部分，有時(shí)也可能高壓、接地部分都有**電暈放電，則時(shí)基橢圓的正負(fù)半周就出現(xiàn)兩組訊號(hào)。
（4）液體介質(zhì)中的**放電
波形見圖4，特別：在試驗(yàn)電壓正負(fù)半周峰值位置均有一組訊號(hào)，同一組訊號(hào)等幅值，等間隔，一組中間值較大的訊號(hào)先出現(xiàn)，隨電壓增加值也增大。一組中間值小的訊號(hào)其幅值不隨電壓變化。
起因：在絕緣液體中發(fā)生了**或邊緣電暈放電?；蛞唤M大的訊號(hào)出現(xiàn)在正半周，則**位于高壓部分；若它出現(xiàn)在負(fù)半周，則**處于接地部分。
（5）繼電器，接觸器的動(dòng)作
干擾訊號(hào)波形見圖5，特點(diǎn)：在時(shí)基橢圓上干擾訊號(hào)波形分布不規(guī)則，間隙地出現(xiàn)，且同試驗(yàn)電壓大小無(wú)關(guān)。
起因：閃光燈，熱繼電器，接觸器和各種火花試驗(yàn)器或有火花放電的記錄器動(dòng)作時(shí)造成。
（6）可控硅元件
干擾訊號(hào)波形見圖6，特點(diǎn)：干擾訊號(hào)在時(shí)基橢圓上之位置固定，每一元件產(chǎn)生一個(gè)獨(dú)立的高頻脈沖訊號(hào)。電路接通，電磁耦合效應(yīng)增強(qiáng)時(shí)，訊號(hào)幅值增加，也可能發(fā)生波形展寬、相移，從而在時(shí)基上占位增加。
起因：供電網(wǎng)絡(luò)中有可控硅器件在運(yùn)行。干擾的大小同所用可控硅器件的功率直接有關(guān)。
（7）異步電機(jī)
干擾波形見圖7。特點(diǎn)：在時(shí)基橢圓上正負(fù)半周波形出現(xiàn)對(duì)稱的二組訊號(hào)，且沿掃描時(shí)基逆時(shí)針?lè)较蛞苿?dòng)。
起因：異步電機(jī)運(yùn)行時(shí)產(chǎn)生的干擾訊號(hào)耦合到檢測(cè)回路中來(lái)。
（8）螢光燈
干擾波形見圖8。特點(diǎn)：在橢圓時(shí)基上出現(xiàn)欄柵狀幅值大致相等的脈沖，并伴有正負(fù)半波時(shí)對(duì)稱出現(xiàn)的二簇脈沖組。
（9）電動(dòng)機(jī)
干擾波形見圖9。特點(diǎn)：沿橢圓時(shí)基均布，等幅值每一個(gè)單個(gè)訊號(hào)或“山”字形。
起因：帶換向器的電動(dòng)機(jī)如風(fēng)扇、電吹風(fēng)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)所發(fā)出的干擾訊號(hào)。
（10）無(wú)線電干擾
干擾波形見圖10，特點(diǎn)：沿整個(gè)時(shí)基橢圓分布的幅值有調(diào)制的高頻正弦波。
起因：高頻電力放大器，無(wú)線電話、廣播話筒等。
（11）中高頻工業(yè)設(shè)備
干擾波形見圖11。特點(diǎn)：訊號(hào)在時(shí)基橢圓上連續(xù)發(fā)生，但僅在半周內(nèi)出現(xiàn)。
起因：感應(yīng)加熱裝置及頻率接近局部放電檢測(cè)頻率的超聲波發(fā)生器等。
（12）磁飽和產(chǎn)生的諧波
干擾波形見圖12。特點(diǎn)：在時(shí)基橢圓正負(fù)半波上對(duì)稱出現(xiàn)一對(duì)諧波振蕩訊號(hào)，訊號(hào)幅值隨電壓增加而增加，電壓除去，訊號(hào)消失。訊號(hào)穩(wěn)定，能重復(fù)再現(xiàn)。
起因：試驗(yàn)系統(tǒng)中鐵芯設(shè)備（試驗(yàn)變壓器，并聯(lián)或串聯(lián)電抗器，濾波電抗器，匹配變壓器，調(diào)壓變壓器）磁飽和時(shí)產(chǎn)生的諧振訊號(hào)。
（13）電極在電場(chǎng)方向運(yùn)動(dòng)
干擾波形見圖13。特點(diǎn)：僅在時(shí)基橢圓的半周中出現(xiàn)二個(gè)訊號(hào)脈沖，它們相對(duì)于峰值點(diǎn)對(duì)稱分布。起始點(diǎn)該二訊號(hào)很靠近，隨電壓增大，二者逐漸分開，且有可能產(chǎn)生新的訊號(hào)脈沖對(duì)。
起因：電極（尤其是金屬箔電極）在電場(chǎng)作用下運(yùn)動(dòng)。
（14）介質(zhì)表面放電
干擾訊號(hào)波形見圖14。特點(diǎn)：放電訊號(hào)出現(xiàn)在試驗(yàn)電壓峰值之前。正負(fù)半周中都有，而且幅值基本相等。訊號(hào)幅值和位置有隨機(jī)性變化。開始時(shí)，放電訊號(hào)是可分辨 的，到一定電壓值后便難以分辨。
起因：二個(gè)接觸的絕緣導(dǎo)體之間介質(zhì)表面上的，或介質(zhì)表面上切向場(chǎng)強(qiáng)較高的區(qū)域發(fā)生放電。
（15）漏電痕跡和樹枝
波形特點(diǎn)：訊號(hào)與一般典型的圖像不符合，波形呈不規(guī)則，不確定的圖像，與電壓有關(guān)。
起因：臟污絕緣中泄漏，絕緣局部過(guò)熱致的碳痕跡或電樹枝足道等。
上述有些圖像，如（4）、（13）、（14）、（15）等也可能即屬試品本身的缺陷。（15）則為介質(zhì)內(nèi)部放電之圖像。